島津微量分析天平的測量影響因素

更新時間：2017-08-08

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島津微量分析天平的測量影響因素

傾斜的影響

島津微量分析天平測量并表示對天平垂直施加的力（質(zhì)量×重力）。如果天平被傾斜放置，那么物體對天平施加的力（質(zhì)量×重力）就會被分為垂直作用力與水平的作用力。

這種情況下，因為天平只能測出垂直作用力，所以顯示值會比物體本來的應有的值要小。

對流的影響

在測量溫度比周圍環(huán)境溫度要高的樣品時，在樣品的附近會有空氣對流形成的上升氣流，它會成為提起樣品的上升力，因此會使得顯示值比實際值要小。

樣品逐漸冷卻，上升氣流會減少，顯示值逐漸增大。

靜電的影響

帶電物質(zhì)會因靜電作用，使得周圍的物體帶相反的電荷，電荷間的庫侖力作用會使質(zhì)量計量產(chǎn)生誤差。因靜電會隨時間逃逸到空氣及計量器皿里，所以會產(chǎn)生測量值變動的現(xiàn)象。

若帶電物體靠近，周圍的物體會生成與帶電物體相反的電荷而相互吸引。

在干燥低濕度的冬季，帶電的作業(yè)員靠近天平時，也有可能會因為同樣的靜電作用，使得測量值跳動。

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